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測厚儀簡介

更新時間:2010-12-27      點擊次數(shù):5285
  測厚儀,thicknessgauge,是用來測量物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、紙張等)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有電容式厚度計等。而利用微波和激光技術(shù)制成厚度計,目前還處在研制、試驗階段。
  
  測厚儀可分為:X射線測厚儀,紙張測厚儀,薄膜測厚儀,涂層測厚儀,在線測厚儀,超聲測厚儀,壓力測厚儀,白光干涉測厚儀,電解式測厚儀,機械接觸式測厚儀。
  
  X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),達到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
  
  紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
  
  薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。
  
  涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
  
  超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

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