(1) 覆蓋層厚度大于25μm時,其差與覆蓋層厚度近似成正比。

　　(2) 基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關。

　　(3) 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響。

　　(4) 渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應，即對靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的。　　

    (5) 試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大。

　　(6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大。